energy dispersive x-ray (EDS)
CHEMICAL ANALYSIS BY EDS
MES为材料的元素组成提供能量色散x射线(EDS)分析. 能谱仪是一种半定量的x射线技术,用于识别材料的元素组成. 应用包括粒子识别, coating analysis, contaminant identification, and corrosion analysis.
EDS实验室硅漂移检测器是扫描电子显微镜(SEM)的附件。. 扫描电镜的成像能力确定感兴趣的标本, 哪些可以立即分析. 能谱仪生成的数据由显示峰的光谱组成,这些峰对应于构成被分析样品真实成分的元素. 数据收集的速度与微观特征的成像相结合,使EDS成为法医调查的理想化学分析技术.
EDS SPECTRA & ELEMENTAL DOT MAPPING
能谱峰的产生是由于每个元素都有一个独特的原子结构这一基本原理, 产生独特的发射光谱. 峰强度可以半量化为一般的重量百分比分解每个元素检测.
样品的元素映射和图像分析也是可能的. 能谱分析技术是非破坏性的,可以在很少或没有样品制备的情况下检查感兴趣的样品.
THE ADVANTAGEs of eds analysis
能量色散x射线光谱学(EDS)是一种与扫描电子显微镜(SEM)结合使用的技术,在材料分析中提供了几个好处. 以下是EDS的一些主要优势:
元素组成分析:能谱分析仪允许对样品中存在的元素进行鉴定和定量分析. 它提供了有关材料元素组成的信息, 包括主要元素和微量元素. 这在确定未知样品的化学组成或确定感兴趣的特定元素时特别有用.
空间分辨率:EDS可以与SEM一起进行, 它能提供样品表面的高分辨率成像. 这种组合允许元素信息与样品微观结构的相关性, morphology, and other surface features. 它使研究人员能够研究样品中特定位置的元素分布, 为材料的结构和组成提供有价值的见解.
无损分析:能谱分析是一种无损分析技术, 这意味着它在分析过程中不会损坏或改变样品. 它可以在各种各样的材料上进行, including metals, ceramics, polymers, and minerals, 无需复杂的样品制备或破坏性检测方法.
元素范围广:能谱仪可以检测整个元素周期表中的元素, 从氢和碳等轻元素到铀和铅等重元素. 这种广泛的元素范围使EDS适用于各种领域, including metallurgy, geology, materials science, biology, and forensics.
定性和定量分析:能谱仪提供样品元素组成的定性和定量信息. Qualitatively, 它根据特定元素的特征x射线发射光谱来识别它们的存在. Quantitatively, 它决定了元素的相对浓度, 启用百分比或权重分数计算.
快速数据采集:EDS系统可以从样品中快速获取元素数据, 使之成为一种快速有效的元素分析技术. 现代EDS探测器提供高计数率和改进的灵敏度, 允许更短的分析时间和增强的数据准确性.
元素映射:通过SEM的集成,EDS可以对样品表面进行元素映射. 通过扫描样品上的电子束并在每个点收集x射线信号, EDS可以生成地图,说明元素的空间分布. 这种技术对于理解元素分离是有价值的, phase distribution, 并在样本中确定感兴趣的区域.
Overall, EDS的优点使其成为各个领域的研究人员和科学家的宝贵工具, 提供关键的基本信息, 协助材料表征, 并支持复杂样品的调查.
EDS CAPABILITIES
定性和半定量的元素组成
快速识别污染物
放大倍率-从5倍到30万倍
固体材料包括金属、矿物和聚合物样品
线扫描和点映射功能
EDS SPECIFICATIONS
ASTM E1508 - EDS元素分析
EDS SAMPLE REQUIREMENTS
Sample Size — up to 10 in. diameter and 3 in. in height.